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ChipScope Pro 和串行 I/O 工具套件

ChipScope™ Pro 工具可在您的設計中直接插入邏輯分析器、係統分析器以及虛擬 I/O 小型軟件內核，從而使您能夠查看任意的內部信號或節點，包括嵌入式軟硬處理器。係統以工作速度捕獲信號，並通過編程接口輸出，從而可大幅減少設計方案的引腳數。捕獲到的信號隨即通過 ChipScope Pro Analyzer 工具進行顯示和分析。

此外，ChipScope Pro 工具還能通過 ATC2 軟件內核與您的 Keysight Technologies 測試設備相連接。該內核能使 ChipScope Pro 工具和 Keysight 的 FPGA 動態探頭插件選項保持同步。Xilinx 與 Keysight 獨特的合作夥伴關係使您能夠在 FPGA 器件上使用更少的引腳來實現更深入的跟蹤存儲器、更快的時鍾速度、更多的觸發器選項以及係統級測量功能。

ChipScope Pro 串行 I/O 工具套件讓您能夠快速、輕鬆地實現高速 FPGA 設計中串行 I/O 通道的交互式設置和調試。ChipScope Pro 串行 I/O 工具套件使您能夠進行多通道誤碼率 (BER) 測量，並實時調整高速串行收發器參數，同時還能保持串行 I/O 通道與係統其他部分的互動。

支持的器件係列

ChipScope Pro ChipScope Pro 串行 I/O 工具套件
Artix®-7
Zynq®-7000
Kintex®-7 FPGA（所有）
Virtex®-7 FPGA（所有）
Virtex-6 FPGA（所有）
Virtex-5 FPGA（所有）
Virtex-4 FPGA（所有）
Spartan®-6 FPGA（所有）
Spartan-3A/-3AN/-3A DSP/-3E/-3 FPGA（所有）		 Kintex -7 FPGA、Virtex-6 FPGA（LXT、SXT 和 HXT）
Virtex®-7 FPGA
Virtex-5 FPGA（LXT 和 FXT）
Virtex-4 FPGA (FX)
Spartan-6 FPGA (LXT)
  • 全新發RX 裕量分析工具充分利用 7 係列收發器中的眼圖掃描功能，實現實時互動特性描述和信道質量優化或離線查看測試結果
  • 分析所有內部 FPGA 信號，其中包括嵌入式處理器係統總線等
  • 在設計輸入過程中或綜合之後，插入小型可配置軟件內核
  • 所有 ChipScope Pro 核均通過 Xilinx CORE Generator™ 係統提供
  • 分析器觸發與捕獲功能的增強使重複測量變得簡單易行
  • Virtex-5 與 Virtex-6 係統監控器控製台的增強功能使我們能夠更輕鬆地獲取片上溫度、電壓以及外部傳感器數據
  • 無需重新實施設計即能更改探測點
  • 通過網絡連接進行遠程調試，從辦公室到實驗室，甚至是跨越全球
  • 將 ChipScope 內核插入及生成功能集成到 Project Navigator 與 PlanAhead 工具流程中
  • 利用 HDL（VHDL 和 Verilog）或約束文件直接添加調試探頭
  • 輕鬆、快速地實現 FPGA 串行 I/O 通道的交互式設置和調試
  • 同時測量多個通道上的 BER
  • 在您的串行 I/O 通道與係統的其他部分進行交互的同時，實時調整高速串行收發器參數
  • 包括眾多標準 ITU 標準模式等在內的內置模式生成器和檢查器
  • IBERT (Bit Error Ratio Tester) 掃描測試圖 GUI
    • 帶有內置的圖形查看器，顯示 Virtex-6 GTX / GTH FPGA 收發器的 IBERT 掃描測試結果
    • 用於離線 IBERT 分析的獨立圖形查看器能夠掃描Kintex-7 FPGA GTX、Virtex-7 FPGA GTX、Virtex-6 FPGA GTX/GTH、Spartan-6 FPGA GTP 及 Virtex-5 FPGA GTX 收發器的測試結果
  • 僅需 JTAG 端口即可訪問您的開發板、而無需額外的引腳就能實現專用的高速串行調試或設置
  • 以2種不同的掃描算法支持 Kintex-7 GTX 、Virtex-7 GTX/GTH/GTZ 和 Artix-7 GTP RX 裕量分析工具
    • 2D 全麵掃描：在“視線”範圍內掃描所有垂直和水平偏移采樣點
    • 1D Bathtub: 通過 0 垂直行偏移量掃描所有水平采樣點

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